Aktualności

16 września blisko 200 metrologów i ekspertów związanych z tą dziedziną nauki spotkało się w Kielcach, aby rozmawiać o perspektywach rozwoju, jakie stawia przed nami współczesna metrologia. Naukowcy, przedsiębiorcy oraz badacze przyjechali na drugą edycję międzynarodowej konferencji „New Trends in Metrology”, zorganizowanej w Kielcach przez Polską Unię Metrologiczną we współpracy z Politechniką Lubelską i Głównym Urzędem Miar.

Konferencję moderował dr Andrzej Kurkiewicz, Dyrektor Departamentu Innowacji i Rozwoju, p.o. Dyrektor Zakładu Technologii Cyfrowych Głównego Urzędu Miar. Odczytał on list Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego Dariusza Wieczorka, skierowany do przewodniczącego komitetu naukowego, prof. Zbigniewa Patera, Rektora Politechniki Lubelskiej oraz uczestników konferencji. Minister podkreślił, że konferencja będzie doskonałą okazją do wymiany wiedzy i doświadczeń w kluczowych zagadnieniach dotyczących metrologii, a efekty pracy polskich metrologów przyczynią się do rozwoju tej dziedziny na świecie.

Profesor dr hab. Jacek Semaniak, Przewodniczący Prezydium Polskiej Unii Metrologicznej (PUM) i jednocześnie Prezes Głównego Urzędu Miar (GUM), witając zgromadzonych gości, podkreślił dotychczasowe dokonania PUM i wyraził zadowolenie, że przed organizacją istnieje jeszcze wiele wyzwań i interesujących projektów, takich jak choćby przygotowanie Kongresu Gospodarczego, organizacja warsztatów metrologicznych w akredytowanych laboratoriach, współorganizacja Konkursu Wiedzy o Metrologii „METROLIGA” czy rozwój Bazy Infrastruktury Metrologicznej i budowa Kiosku Usług Metrologicznych.

Prorektor ds. cyfryzacji i komercjalizacji Politechniki Lubelskiej, w której strukturach funkcjonuje Biuro PUM, dr hab. inż. Konrad Gromaszek, prof. uczelni, wyraził uznanie dla dotychczasowej aktywności PUM i dumę, że to właśnie Politechnice Lubelskiej powierzono tak ważne zadanie jak integrowanie naukowego środowiska metrologicznego i budowanie relacji pomiędzy nauką a otoczeniem społeczno-gospodarczym. Zakończył, życząc zgromadzonym, aby owocne spotkania metrologów stały się zaczątkiem przenoszenia idei i pomysłów do praktycznych zastosowań.

Prorektor ds. rozwoju Politechniki Świętokrzyskiej, jeden z gospodarzy Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego, prof. dr hab. inż. Paweł Kossakowski, wyraził radość, że konferencja odbywa się w Kielcach. Przypomniał bogatą historię „kieleckiej metrologii” oraz zachęcił gości przybyłych na wydarzenie do zapoznania się z walorami województwa świętokrzyskiego.

Pierwszego dnia konferencji swoje wystąpienie miała dr Miruna Dobre, kierownik badań oraz Laboratorium Termometrii w belgijskim Krajowym Instytucie Metrologii, z wykładem „Postępy w metrologii dzięki badaniom finansowanym przez UE: osiągnięcia i wyzwania". Pani doktor przedstawiła historię i znaczenie współpracy badawczej w metrologii na poziomie europejskim, koordynowanej przez EURAMET.

Z kolei prof. dr hab. Beata Godlewska-Żyłkiewicz, kierownik Katedry Chemii Analitycznej i Nieorganicznej na Wydziale Chemii Uniwersytetu w Białymstoku, w swoim wystąpieniu zwróciła uwagę na zagadnienia związane z nanometrologią – nową dziedziną zajmującą się pomiarami w skali nanometrycznej. Skupiła się między innymi na wyzwaniach metrologicznych związanych z analizą nanocząstek (NPs) w żywności.

Trzeci z głównych mówców, prof. Aime Lay Ekuakille z Uniwersytetu w Salento (Włochy), skupił się na aparaturze diagnostycznej stosowanej w radiologii oraz aplikacjach biomedycznych i przemysłowych.

Kolejny mówca, prof. Luca de Vito (Uniwersytet Sannio w Benevento, Włochy), przedstawił nowe systemy akwizycji danych z obszaru Internetu rzeczy (IoT) oraz rozproszonych systemów pomiarowych i diagnostycznych (CS). Idea CS (the emerging compressed sensing) pozwala na rozwój wydajnych, samodzielnych i sieciocentrycznych aplikacji w Internecie rzeczy (IoT) przy jak najmniejszej liczbie zasobów.

Pierwszego dnia konferencji odbyła się również sesja poświęcona programowi Ministra Nauki „Polska Metrologia”. Celem programu jest podniesienie zdolności badawczych polskich instytucji zajmujących się metrologią oraz wspieranie rozwoju nowoczesnych technologii pomiarowych. Jednym z głównych zadań programu jest stymulowanie rozwoju technologii cyfrowych, w tym rozwój multisensorycznych systemów pomiarowych. Program wspiera projekty dotyczące rozwoju technologii przemysłowych opartych na najnowszych innowacjach metrologicznych, cyfryzacji i automatyzacji pomiaru.

„Globalne cele zrównoważonego rozwoju wpływają na przemysł metrologiczny, wprowadzając dodatkowe koszty i wymogi regulacyjne. Postęp technologiczny, w tym rozwój AI i systemów big data, umożliwia bardziej precyzyjne pomiary, ale wiąże się z wyższymi kosztami inwestycyjnymi, w tym aparaturowymi, i wymaga zaawansowanej obsługi technicznej. Rozwój technologii multisensorycznych poprawia jakość pomiarów i pozwala na uzyskanie dokładniejszych danych, ale z drugiej strony zwiększa złożoność systemów” – powiedział prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski z Politechniki Poznańskiej, jeden z prelegentów konferencji.

Dzień zakończył się obradami Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk, pod przewodnictwem prof. dr hab. inż. Mirosława Pajora.

Drugiego dnia konferencji głównym mówcą był między innymi dr hab. inż. Zbigniew Humienny, prof. uczelni z Wydziału Mechanicznego Energetyki i Lotnictwa Politechniki Warszawskiej, który omówił znaczenie tolerancji geometrycznych i wyjaśniał, dlaczego metrolog potrzebuje tolerancji geometrycznych na rysunku konstrukcyjnym produktu. Dr inż. Harald W. Scholz z Komisji Europejskiej mówił o zaawansowanych inteligentnych rozwiązaniach energetycznych i roli metrologii w tym obszarze. Odniósł się do zrównoważonego rozwoju, efektywności energetycznej, monitoringu, fotowoltaiki, kompatybilności elektromagnetycznej, technologii i systemów energii odnawialnej oraz testowania pojazdów. Dr inż. Harald W. Scholz, jako lider projektu SMARTEN, mówił o wsparciu metrologii ze strony Unii Europejskiej, badaniach prenormatywnych i wyjaśniał, dlaczego współpraca z instytucjami metrologicznymi, środowiskiem akademickim i centrami badawczymi państw członkowskich jest tak ważna i pożądana. Na zakończenie dr Piotr Sobecki z Głównego Urzędu Miar oraz Ośrodka Przetwarzania Informacji (GUM, OPI) omówił, w jaki sposób rozwiązania oparte na sztucznej inteligencji są wykorzystywane w diagnostyce raka prostaty, systemach metrologicznych opartych na IoT oraz analizie danych CT, które ujawniają ukryte wzorce w złożonych ocenach radiologicznych i skomplikowanych pomiarach przemysłowych. W swoim przemówieniu przedstawił koncepcję wirtualnych czujników opartych na sztucznej inteligencji, które umożliwiają głębszy wgląd w dane pomiarowe, gwarantując przejrzystość i zaufanie do wyciąganych wniosków przez AI.

„Obecnie przemysł potrzebuje dokładnych i szybkich pomiarów. Innowacje w metrologii stanowią ich 'kręgosłup'. Dla rozwoju przemysłu pomiary muszą być zintegrowane w czasie rzeczywistym z realizowanymi procesami technologicznymi zgodnie z ideą przemysłu 4.0 i 5.0. Dlatego musimy dysponować zaawansowanymi technologiami pomiarowymi i precyzyjną aparaturą pomiarową. Jestem przekonany, że Polska ma ogromny potencjał, aby stać się liderem w tej dziedzinie, zwłaszcza jeśli skupi się na rozwoju systemów wspomaganych narzędziami sztucznej inteligencji, zaawansowanych systemów monitorowania procesów produkcyjnych i automatyzacją procesów pomiarowych, co zwiększy wydajność pomiaru. Jako Polska Unia Metrologiczna stawiamy sobie za cel wspieranie badań i wdrażanie innowacyjnych rozwiązań, które będą oddziaływać bezpośrednio na rozwój przemysłu oraz całą gospodarkę krajową" – mówił dr hab. inż. Jerzy Józwik, prof. uczelni, dyrektor Biura PUM.

Na konferencji byli obecni również naukowcy z Ukrainy, w tym pani prof. Nataliya Hots z Ukraińskiej Akademii Metrologii, która przedstawiła wystąpienie na temat struktury i działalności tej instytucji. Prezentacja pani profesor była inspiracją do nawiązania szerszej współpracy pomiędzy Polską Unią Metrologiczną a Akademią.

Trzeciego dnia wydarzenia goście zapoznali się z treściami merytorycznymi niemal 50 posterów przygotowanych przez uczestników, prezentujących wyniki badań naukowych oraz innowacyjne rozwiązania z różnych obszarów metrologii. Treść każdego plakatu stanowiła przyczynek do dyskusji kuluarowych oraz wymiany wiedzy i doświadczeń.

Podczas trzech dni konferencji goście mieli okazję wziąć udział w licznych prelekcjach i zapoznać się z wynikami badań naukowych, będących efektem realizacji grantów naukowych, w tym między innymi wspomnianego wcześniej programu Ministra Nauki „Polska Metrologia” oraz prac własnych i statutowych uczelni wyższych, instytutów naukowych PAN oraz sieci badawczych. Odbyło się także wiele interesujących tutoriali prowadzonych przez doświadczonych praktyków, takich jak „Wykorzystanie skanowania laserowego w automatyzacji procesów pomiarowych”, „Automatyzacja pomiarów współrzędnościowych w kontroli jakości”, „Ścieżka szkoleń metrologa współrzędnościowego” oraz „Przechwytywanie wysokiej jakości danych procesowych ze sterowania CNC”.

Jednym z wydarzeń towarzyszących konferencji była wizyta w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM. To nowoczesny ośrodek badawczo-rozwojowy, który oferuje warunki do współpracy pomiędzy profesjonalną i innowacyjną metrologią laboratoryjną a gospodarką.

Warto wspomnieć o mieście, w którym odbywała się tegoroczna konferencja – Kielce nie zostały wybrane przypadkowo. To tutaj 9 września 2024 roku uroczyście zainaugurowano otwarcie wyjątkowej na skalę europejską inwestycji – Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego. Inwestycja powstała z inicjatywy Głównego Urzędu Miar i Politechniki Świętokrzyskiej. Z okazji oficjalnego otwarcia Kampusu GUM w Kielcach, 14 września odbyła się pierwsza Noc Metrologa, a 15 września 2024 roku zorganizowano Naukowy Piknik Metrologiczny, we współpracy z Polską Unią Metrologiczną (PUM), Głównym Urzędem Miar oraz władzami miasta Kielce.

Druga edycja międzynarodowej konferencji „New Trends in Metrology” trwała do 18 września 2024 roku. Wydarzenie zostało objęte patronatem Ministra Nauki, Prezesa Głównego Urzędu Miar, Przewodniczącego Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk, Prezydenta Miasta Lublin – Krzysztofa Żuka, Marszałka Województwa Lubelskiego – Jarosława Stawiarskiego, JM Rektora Politechniki Świętokrzyskiej oraz JM Rektora Politechniki Lubelskiej, a także Lubelskiego Towarzystwa Naukowego, Polskiej Agencji Kosmicznej (POLSA) oraz Polskiego Stowarzyszenia Pomiarów Automatyki i Robotyki (POLSPAR). Patronat medialny objęły: TVP Lublin, TVP Kielce, Radio Kielce, laboratoryjnie.pl oraz Forum Akademickie.

Za dwa lata Polska Unia Metrologiczna (PUM) wraz z partnerami planuje organizację trzeciej edycji międzynarodowej konferencji „New Trends in Metrology”. O miejscu i terminie będziemy Państwa informować na bieżąco.