Aktualności

Już w najbliższy poniedziałek (16 września) rozpocznie się druga edycja konferencji „New Trends in Metrology”, w której udział wezmą eksperci z całego świata. Naukowcy
i przedstawiciele przemysłu dyskutować będą o tym, jak nowoczesna metrologia, zmienia przemysł, zdrowie i ochronę środowiska.

Podczas trzydniowej konferencji „New Trends in Metrology” organizowanej przez Polską Unię Metrologiczną, Kielce staną się centrum światowej metrologii. Dowiedzieć będzie się można tam, jak metrologia, czyli nauka o pomiarach, zmienia współczesny świat.

Profesor Jerzy Józwik z Politechniki Lubelskiej, Dyrektor Biura Polskiej Unii Metrologicznej, zwraca uwagę, że metrologia to fundament technologiczny, bez którego trudno wyobrazić sobie rozwój nowoczesnej gospodarki. Wprowadzenie jednostek SI w miejscach ich zastosowania i dalszy rozwój precyzyjnych pomiarów to wyzwania na najbliższą przyszłość.

Dlatego wśród głównych tematów konferencji pojawi się nanometrologia – nowa, rozwijająca się dziedzina zajmująca się m.in. analizą nanocząstek w żywności. Eksperci zwrócą także uwagę na rolę tolerancji geometrycznych w procesie produkcji oraz na jakość sprzętu diagnostycznego, podkreślając znaczenie regularnej konserwacji i zgodności z normami technicznymi.

Metrologia coraz częściej korzysta z nowoczesnych technologii, w tym sztucznej inteligencji. W jednym z wykładów omówione zostanie, jak AI może wspierać metrologów, przekształcając subiektywne interpretacje wyników pomiarów w precyzyjne dane, które są kluczowe
w procesie podejmowania decyzji.

Konferencja to nie tylko wykłady, ale również seria praktycznych tutoriali prowadzonych przez ekspertów z branży. Szczególnie interesujące będą te poświęcone metrologii współrzędnościowej oraz nowoczesnym technikom skanowania laserowego.