Aktualności

W dniach 25–27 czerwca 2025 roku firma ZEISS zorganizowała spotkanie dla użytkowników urządzeń pomiarowych ZEISS oraz dla wszystkich, którzy myślą o wprowadzeniu ich technologii pomiarowej do swoich firm i instytucji. Wydarzenie odbyło się w Katowicach,
w Międzynarodowym Centrum Kongresowym oraz  w Tychach, w laboratorium ZEISS Quality Excellence Center.

Uczestnicy spotkania mogli wziąć udział w szeregu wydarzeń: wykładach i prezentacjach
z zakresu metrologii, warsztatach, na których zobaczyli, jak urządzenia firmy ZEISS usprawniają procesy, spotkaniach z praktykami z innych przedsiębiorstw – umożliwiającymi wymianę dobrych praktyk – oraz w konsultacjach z ekspertami, którzy wyjaśniali, jak wdrożyć konkretne rozwiązania dostosowane do specyfiki i potrzeb danej instytucji czy firmy.

Polską Unię Metrologiczną podczas wydarzenia reprezentował kilkuosobowy zespół, w tym m.in. dr hab. Jerzy Józwik, prof. uczelni, Dyrektor Biura Polskiej Unii Metrologicznej, który zaznaczył:

„Takie inicjatywy, jak Dni Wiedzy i Innowacji organizowane przez ZEISS, są niezwykle ważne dla środowiska metrologicznego w Polsce. To nie tylko okazja do zapoznania się
z najnowszymi technologiami, ale przede wszystkim do wymiany doświadczeń i budowania relacji między przemysłem, nauką i praktykami. Polska Unia Metrologiczna wspiera tego rodzaju przedsięwzięcia.”

Podczas sesji plenarnych goście wysłuchali wystąpienia „Trendy rynku i historia wdrożenia” oraz mieli okazję zapoznać się z portfolio ZEISS i premierami roku 2025, w tym z koncepcją „Blue Line – Jak ZEISS wspiera przemysł na różnych etapach produkcyjnych.”

Sesje warsztatowe oferowały uczestnikom możliwość praktycznego zastosowania zdobytej wiedzy, wymiany doświadczeń oraz bezpośredniej współpracy z ekspertami w danej dziedzinie. Firma ZEISS zaproponowała warsztaty w wielu tematach, m.in.:
– Szkolenia specjalistyczne i AUKOM – ścieżka rozwoju kompetencji metrologa

– ZEISS ScanBox – zautomatyzowane systemy pomiarowe 3D rodziny ScanBox,

– ARAMIS: Szybkie pomiary pomieszczeń, odkształceń i deformacji 3D,
– CMM: Gdy liczy się precyzja – współrzędnościowe maszyny pomiarowe.

Chętni mogli również wziąć udział w szeregu szkoleń aplikacyjnych, obejmujących takie tematy jak m.in.:
– ZEISS CALYPSO 2024 - Optymalizacja programu pomiarowego,
– Wpływ zużycia trzpienia pomiarowego na wyniku pomiaru. Praktyczne podejście do procesu kwalifikacji.
– PiWeb – profesjonalne raportowanie i analiza statystyczna w metrologii,
– Praktyczne zastosowanie mikroskopów przemysłowych – wykorzystanie w badaniu czystości technicznej i metalografii.

Dni Wiedzy i Innowacji wpisują się w cykl wydarzeń organizowanych przez firmę ZEISS. Celem, który stawia przed sobą firma, jest podnoszenie kompetencji użytkowników produktów ZEISS, prezentacja bogatej oferty innowacyjnych rozwiązań oraz budowa społeczności ekspertów, którzy na co dzień współpracują i dzielą się wiedzą.