Aktualności

Nie każda innowacja zaczyna się od wielkiego odkrycia. Czasem zaczyna się od dokładniejszego pomiaru.

O tym, jak ważna jest metrologia dla nauki, przemysłu i nowych technologii, będzie można porozmawiać podczas trzeciej edycji Międzynarodowej Konferencji Metrologicznej „New Trends in Metrology”. Wydarzenie organizowane przez Polską Unię Metrologiczną ponownie odbędzie się w Kielcach.

Konferencja NTiM to okazja do spotkania osób, które na metrologię patrzą z różnych perspektyw: naukowców, ekspertów, przedstawicieli instytucji publicznych oraz biznesu. Dzięki temu rozmowa nie ogranicza się do jednej dziedziny pomiarów. Metrologia pokazana zostanie szerzej jako obszar, który łączy naukę, przemysł, cyfryzację, administrację i rozwój nowych technologii.

Podczas wydarzenia uczestnicy poznają nie tylko wyniki badań, lecz także praktyczny kontekst ich wykorzystania. W programie znajdą się wystąpienia specjalistów reprezentujących renomowane ośrodki badawcze i firmy, co pozwoli spojrzeć na współczesną metrologię zarówno od strony naukowej, jak i praktycznej.

Jednym z ważnych tematów konferencji będzie wpływ nowych technologii na pomiary. Uczestnicy dowiedzą się, jak Big Data, uczenie maszynowe, sztuczna inteligencja, technologie laserowe i automatyzacja zmieniają metrologię oraz jakie znaczenie ma ona dla rozwoju Przemysłu 5.0.

NTiM będzie również dobrą okazją do rozmów w kuluarach pomiędzy przedstawicielami nauki, administracji i biznesu. Takie spotkania często pozwalają lepiej zrozumieć potrzeby różnych środowisk i zainicjować współpracę.

Udział w konferencji jest bezpłatny. Preferowanym językiem wydarzenia będzie język angielski. Konferencja odbędzie się w dniach 26-28 października 2026 r. w Kielcach.

Link do rejestracji:

https://forms.cloud.microsoft/e/hwEsigChBT