Aktualności

17-19 września 2025 roku na terenie Targów Kielce odbyła się VIII Międzynarodowa Konferencja Naukowa Szybkie Prototypowanie - Druk 3D & 4D - problemy metrologiczne. Wydarzenie było połączona z obchodami 60-lecia istnienia Politechniki Świętokrzyskiej. Konferencje zorganizowała Katedra Metrologii i Niekonwencjonalnych Metod Wytwarzania na Wydziale Mechatroniki i Budowy Maszyn Politechniki Świętokrzyskiej. Wydarzenie odbywa się już po raz ósmy, ciesząc się wsparciem krajowych oraz zagranicznych ośrodków naukowych, a także środowisk przemysłowych, co pozwala jej być znakomitą platformą transferu wiedzy.

W konferencji wziął udział przedstawiciel Polskiej Unii Metrologicznej, Dyrektor Biura PUM dr hab. inż. Jerzy Józwik, prof. uczelni, który podkreślił: „W erze Przemysłu 4.0 technologia druku 3D i 4D nie może istnieć bez precyzyjnej metrologii – to ona zapewnia wiarygodność, powtarzalność i jakość, które są fundamentem nowoczesnego wytwarzania.”

Tematem przewodnim tegorocznej edycji były problemy metrologiczne, które odgrywają kluczową rolę w zapewnianiu jakości i precyzji w procesach druku 3D i 4D. W trakcie konferencji poruszano szeroki zakres zagadnień badawczych – od własności mechanicznych i tribologicznych wytwarzanych elementów, przez analizy symulacyjne i ekonomiczne, po aspekty oprogramowania CAD/CAM/CAE oraz filozofie LEAN Design Manufacturing i koncepcje Smart Industry.

Wydarzenie stanowiło forum wymiany wiedzy między nauką a przemysłem, a uczestnicy mogli wziąć udział zarówno stacjonarnie, jak i online. Kulminacyjnym punktem programu był panel dyskusyjny, podczas którego eksperci rozmawiali o aktualnym stanie wdrażania technologii druku 3D/4D i perspektywach dalszego rozwoju metrologii w tym dynamicznie rozwijającym się obszarze.

Konferencja została objęta patronatem Polskiej Unii Metrologicznej, Prezydenta Miasta Kielce Agaty Wojdy, Urzędu Marszałkowskiego, Głównego Urzędu Miar, Narodowego Centrum Badań i Rozwoju.