Aktualności

8-10 października 2025 roku w Rzeszowie i w Polańczyku nad Soliną odbyła się kolejna edycja XXVI Międzynarodowego Seminarium Metrologów. To cykliczne wydarzenie, którego celem jest prezentacja prac naukowo-badawczych i aplikacji inżynierskich oraz wymiana doświadczeń dydaktycznych w dziedzinie metrologii. Organizatorem Konferencji jest Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Politechniki Rzeszowskiej, która organizuje konferencję corocznie od 1993 roku.

Wydarzenie zostało objęte patronatem Polskiej Unii Metrologicznej. PUM reprezentował Dyrektor Biura PUM dr hab. inż. Jerzy Józwik, prof. uczelni, który wygłosił prezentację dot. działalności Polskiej Unii Metrologicznej.

„Metrologia nie jest już tylko narzędziem pomiaru – dziś to strategiczny element innowacji, bezpieczeństwa i rozwoju technologii w każdym sektorze nowoczesnego przemysłu”. – zaznaczył dr hab. inż. Jerzy Józwik, prof. uczelni.

Spotkanie rozpoczęło się w Rzeszowie na Wydziale Elektrotechniki i Informatyki Politechniki Rzeszowskiej, który w bieżącym roku obchodzi Jubileusz 60-lecia. Dalsza część konferencji miała miejsce w Polańczyku.

Konferencja poświęcona była najnowszym osiągnięciom, trendom i wyzwaniom w dziedzinie metrologii, czujników, przetworników oraz systemów pomiarowych i informatycznych. Jej celem było stworzenie przestrzeni do wymiany wiedzy i doświadczeń pomiędzy przedstawicielami świata nauki, przemysłu oraz instytucji publicznych zajmujących się szeroko rozumianą techniką pomiarową i jej zastosowaniami.

W centrum uwagi znalazły się zarówno fundamentalne problemy metrologii, jak i praktyczne zastosowania pomiarów w różnych sektorach – od przemysłu i medycyny, przez energetykę, lotnictwo i kosmonautykę, po bezpieczeństwo żywności i ochronę środowiska.

Poruszane zagadnienia obejmowały m.in.:

• nowoczesne systemy akwizycji danych oraz pomiarów w czasie rzeczywistym,
• komputerowe i wirtualne systemy pomiarowe, Internet rzeczy i bezprzewodowe sieci czujników,
• przetwarzanie sygnałów i obrazów w procesach pomiarowych,
• czujniki, przetworniki i mikroczujniki, a także integrację i fuzję danych pomiarowych,
• optyczne i światłowodowe systemy pomiarowe, techniki nieinwazyjne oraz rozwiązania dedykowane robotyce i przemysłowi 4.0.

Duży nacisk położono również na kwestie jakości i wiarygodności pomiarów: kalibrację, weryfikację, identyfikowalność niepewności, a także akredytację i certyfikację zgodnie z obowiązującymi normami. Ważnym obszarem dyskusji były także zastosowania dużych zbiorów danych w metrologii, rozwój oprogramowania metrologicznego oraz wyzwania związane z pomiarami w środowiskach przemysłowych — w tym w produkcji addytywnej i kontroli procesów technologicznych.

Wśród omawianych tematów znalazły się także tendencje przyszłościowe, takie jak rozwój urządzeń o niskim poborze mocy, pomiary w warunkach ekstremalnych oraz rosnąca rola inteligentnych systemów pomiarowych w zautomatyzowanych procesach przemysłowych.

Konferencja pokazała, że współczesna metrologia coraz silniej łączy precyzyjne pomiary z zaawansowanymi technologiami informatycznymi, tworząc fundamenty dla dalszego rozwoju innowacji technologicznych i przemysłowych.