Aktualności

To już tradycja, że podczas Przemysłowej Wiosny w Kielcach Polska Unia Metrologiczna organizuje seminarium dla przedstawicieli nauki, przemysłu i administracji. Tematyka piątej edycji wydarzenia dotyczyła kluczowej roli metrologii w rozwoju nowoczesnych technologii wspieranych sztuczną inteligencją.

Seminarium otworzył dr hab. inż. Jerzy Józwik, prof. uczelni, Dyrektor Biura Polskiej Unii Metrologicznej, który podkreślił, jak istotny jest temat seminarium w kontekście dynamicznego rozwoju sztucznej inteligencji. „Sztuczna inteligencja staje się jednym z kluczowych narzędzi wykorzystywanych w rozwoju technologicznym, ale jej wartość zależy od jakości i wiarygodności danych pomiarowych” – wyraźnie podkreślił. „Metrologia stanowi fundament, na którym AI może dopiero rozwijać się w sposób budzący zaufanie i użyteczny dla gospodarki” – dodał.

„Cieszę się z naszego kolejnego spotkania podczas seminarium Polskiej Unii Metrologicznej w Kielcach – to już taka dobra tradycja współpracy nauki i przemysłu” – podkreślił Piotr Ziółkowski, Dyrektor Generalny Głównego Urzędu Miar. „Sztuczna inteligencja to obszar, w którym intensywnie rozwijamy kompetencje; pierwsze badania przynoszą obiecujące wyniki i chcemy wkrótce realizować projekty w konsorcjach z innymi podmiotami”.

Pierwsza sesja seminarium koncentrowała się na roli metrologii w rozwoju nowoczesnych technologii, ze szczególnym uwzględnieniem zastosowań sztucznej inteligencji. Prof. Ewa Bulska z Uniwersytetu Warszawskiego podkreśliła znaczenie spójności pomiarowej jako fundamentu wiarygodnych wyników badań i wdrażania innowacji technologicznych. „Metrologia jest fundamentem wielu obszarów naszego życia, choć często pozostaje niewidoczna. Dla mnie jako chemika jej znaczenie wiąże się przede wszystkim z bezpieczeństwem – środowiska, zdrowia, żywności czy terapii medycznych. Kluczowe jest poczucie odpowiedzialności za wynik pomiaru. To właśnie na jego podstawie podejmowane są decyzje – często o bardzo dużym znaczeniu społecznym, prawnym czy gospodarczym. Dlatego tak ważna jest spójność pomiarowa” – dodała badaczka.

Prof. Mirosław Pajor z Politechniki Morskiej w Szczecinie zaprezentował wykorzystanie koncepcji cyfrowego bliźniaka obrabiarki CNC, wspomaganego przez AI, wskazując na nowe możliwości optymalizacji procesów produkcyjnych.

Natomiast prof. Kamil Jonak, reprezentujący Politechnikę Lubelską, skupił się na omówieniu roli sztucznej inteligencji w rozwoju współczesnej metrologii, zwracając uwagę na jej wpływ na analizę danych i automatyzację pomiarów. Z kolei dr inż. Rafał Jóźwiak z OPI-BIP przedstawił zagadnienia związane z obrazowaniem medycznym, podkreślając, że to właśnie mierzalność i niepewność pomiarowa budują zaufanie do rozwiązań opartych na AI w obszarze diagnostyki medycznej.

Prelegenci w drugiej sesji skupili się na prezentacji praktycznych aspektów wykorzystania metrologii w przemyśle przyszłości. Wystąpienie prof. Anny Timofiejczuk z Politechniki Śląskiej koncentrowało się na roli metrologii jako fundamentu budowania wiarygodności rozwiązań technologicznych w erze AI oraz przechodzeniu od precyzyjnego pomiaru do innowacji. Marcin Kwiatkowski, prezes firmy Cloudsty, zwrócił uwagę na zjawisko tzw. „halucynacji” sztucznej inteligencji, pokazując, jak szum pomiarowy i niedoskonałości danych mogą wpływać na jakość generowanych wyników. Dariusz Brzozowski, reprezentujący firmę ITA, przedstawił znaczenie nowoczesnych rozwiązań metrologicznych wspieranych przez AI w kontekście przemysłu przyszłości, podkreślając ich rolę w zwiększaniu efektywności i precyzji procesów. Z kolei Jakub Spisek z firmy EC TEST SYSTEMS omówił aspekty metrologiczne inteligentnych sensorów drgań, wskazując na znaczenie analizy danych wspomaganej sztuczną inteligencją w diagnostyce oraz monitoringu obiektów inżynierskich.

Trzecia sesja seminarium poświęcona była zagadnieniom standaryzacji, oceny niepewności pomiarów oraz rozwoju infrastruktury metrologicznej w kontekście wykorzystania sztucznej inteligencji. W swoim wystąpieniu prof. Tomasz Kozior zwrócił uwagę na znaczenie standaryzacji w technologii druku 3D. Prof. Marcin Krawczyk z Politechniki Krakowskiej, Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej, omówił nowoczesne metody oceny niepewności pomiarów z wykorzystaniem sztucznej inteligencji. Następny mówca, dr inż. Konrad Kobiela, również reprezentujący Politechnikę Krakowską, Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej, przedstawił założenia i perspektywy rozwoju Narodowej Sieci Metrologii Współrzędnościowej. Z kolei dr Jakub Karasiński z Uniwersytetu Warszawskiego zaprezentował projekty realizowane na Uniwersytecie Warszawskim w ramach programu „Polska Metrologia II”.

Podczas seminarium odbyła się uroczystość podpisania umów z nowymi członkami Klastra Metrologicznego pozyskanych przez PUM. Klaster reprezentowała Urszula Wasińska, koordynatorka klastra, zastępca dyrektora Centrum Kongresowego Targi Kielce. Swój akces do Klastra Metrologicznego zgłosiły firmy: Emico Robotics, EC TEST Systems, Sur-Trans, Charger, Cloudsty, Nowak Technologie, R7 CNC Iwetta Rajter. Klaster to dzisiaj prawie 70 prężnie działających podmiotów, które współpracują na rzecz rozwoju projektów badawczo-rozwojowych, wdrożeń technologii oraz pozyskiwania finansowania m.in. z PARP i NCBR.

Seminarium zakończyło się podsumowaniem dr hab. inż. Jerzego Jóźwika, prof. uczelni, który podziękował prelegentom i gościom za obecność i zaprosił wszystkich do udziału w jesiennej konferencji New Trends in Metrology organizowanej cyklicznie przez PUM.