Aktualności

Polska Unia Metrologiczna objęła patronatem XIX krajową i X międzynarodową Konferencję Naukowo-Techniczną „Metrologia w Technikach Wytwarzania”.  Wydarzenie odbyło się w Centrum Konferencyjnym Politechniki Wrocławskiej 23-25 października 2024 roku.

Tegoroczna edycja konferencji poświęcona była tematom szczególnie ważnym dla Metrologii 4.0, takim jak metody optyczne i sztuczna inteligencja, które stanowiły przyczynek do dyskusji pomiędzy wybitnymi naukowcami a praktykami z branży goszczącymi na konferencji.  Główne tematy debat dotyczyły: pomiarów 2D/3D, pomiarów powierzchni SGP, pomiarów objętościowych, monitorowania procesów i pomiarów dynamicznych, obrazowania oraz analizy danych i wizualizacji.

Organizator konferencji, Politechnika Wrocławska, w odpowiedzi na sugestie i potrzeby uczestników wydarzenia zaproponował dyskusję w ramach dwóch integralnych ścieżek: badawczo-rozwojowej oraz aplikacyjnej, co umożliwiło prezentację najnowszych wyników badań i ich wdrożeń w tematyce, przy jednoczesnym zapewnieniu dostępu do najnowocześniejszego sprzętu oraz technologii. 

Dyrektor Polskiej Unii Metrologicznej dr hab. Jerzy Józwik, prof. PL był uczestnikiem naukowym konferencji oraz miał przyjemność wystąpić z prezentacją ,,Polska Unia Metrologiczna – integratorem r(ewolucji) polskiej metrologii”.  Prof. Józwik wraz z doktorantami Politechniki Lubelskiej, wystąpili również z referatami naukowymi pt.: ,,Surface Roughness Measurement of Composite Materials Cut with High-Pressure Water-Abrasive Jet”(ref. mgr inż. Michał Leleń) oraz „Identyfikacja położenia środka kinematycznego osi obrotowej 5-osiowej obrabiarki za pomocą systemu R-Test” (ref. mgr inż. Daria Sałamacha).

„To dla mnie wyróżnienie, że mogłem wziąć udział w Konferencji Naukowo-Technicznej ,,Metrologia w Technikach Wytwarzania”, która już po raz kolejny stanowi dla mnie wyjątkową płaszczyznę wymiany wiedzy i doświadczeń, gdzie mogę rozmawiać z wybitnymi fachowcami z danej dziedziny.  Cieszę się, że Polska Unia Metrologiczna objęła tę konferencję swoim patronatem. Tematyka tegorocznych obrad, koncentrująca się na metodach optycznych i sztucznej inteligencji, doskonale wpisuje się w potrzeby nowoczesnego przemysłu 4.0, łącząc praktykę z nauką. Doskonale wpisuje się również w ciąg wydarzeń metrologicznych organizowanych w ostatnich dwóch miesiącach (Konferencja New Trends in Metrology w Kielcach, 16-18 września 2024, Piknik Metrologiczny, 15 września 2024, Otwarcie Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego Głównego Urzędu Miar, w Kielcach, 9 września 2024) ” – powiedział prof. Józwik.

Uczestnicy wrocławskiej konferencji mieli też możliwość skorzystać z warsztatów fakultatywnych ,,Sztuczna inteligencja oraz widzenie komputerowe w problemach metrologii i kontroli jakości” zorganizowanych przez mgr inż. Pawła Majewskiego i mgr inż. Kacpra Marciniaka.

Konferencja została objęta patronatem honorowym Polskiej Unii Metrologicznej oraz prof. dr hab. inż. Arkadiusza Wójsa, Rektora Politechniki Wrocławskiej, prof. dr hab. inż. Mirosława Pajora, Przewodniczącego Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk oraz prof. dr hab. Jacek Semaniak, Prezesa Głównego Urzędu Miar i jednocześnie Przewodniczącego Prezydium Polskiej Unii Metrologicznej.

Wydarzenie poprzez prezentacje, warsztaty i pokazy umożliwiło uczestnikom pełne zaangażowanie w omawianą tematykę i stanowiło znakomitą okazję do wymiany doświadczeń ze specjalistami z branży oraz zaprezentowania wyników swoich prac i badań szerokiemu gronu odbiorców.